MTZ-35
10 µHz – 35 MHz: malzemelerin elektriksel karakterizasyonu
- Frekans aralığı 10 µHz – 35 MHz
- DC gerilim 100 µV – ±10 V, AC 100 µV – 10 V
- İndüktans 10 nH – 10 kH, kapasitans 1 pF – 1000 µF, direnç 1 mΩ – 500 MΩ
Uygulama alanı
Malzeme Karakterizasyonu ve İletkenlik
Seramikler, katı elektrolitler, polimerler, kauçuklar, dielektrikler, kompozitler, güneş hücreleri, yarı iletkenler, biyolojik hücreler, sıvılar ve elektronik bileşenlerin elektriksel karakterizasyonu geniş frekans ve sıcaklık aralığında empedans ölçümü gerektirir.
Bilimsel arka plan
MTZ-35 empedans analizörü 10 µHz – 35 MHz aralığında iletkenlik, permitivite, dielektrik kayıp ve relaksasyon süreçlerini ölçer; MT-Lab® yazılımı sıcaklık taramalarını otomatikleştirir.
ITS-e (-40 … 150 °C) ve HTF-1100 (150 … 1100 °C) sıcaklık kontrol üniteleri, CESH-e / HTSH-1100 numune tutucularla kontrollü atmosferde through-plane ve in-plane ölçüm sağlar.
Yüzey direnci için Entek FPP 510 / FPP 630T dört nokta prob sistemleri; yüzeyde konuma bağlı iletkenlik ve topografya için M470 (SECM, SKP, OSP).
Kullanılan ölçüm yöntemleri
Empedans spektroskopisi (10 µHz – 35 MHz)Sıcaklığa bağlı iletkenlikDielektrik spektroskopiDört nokta prob yüzey direnciSECM / SKP yüzey haritalama
Gerekli olabilecek aksesuarlar
Araştırma aşamasına göre cihaz
Önerilen ürünler
ITS-e
-40 … +150 °C kompakt tezgâh üstü sıcaklık odası
- -40 … +150 °C
- Hızlı soğutma ile kısa ölçüm süresi
- CESH-e kontrollü ortam numune tutucu (2 bar'a kadar)
HTF-1100 ve HTSH-1100
1100 °C'ye kadar kontrollü atmosferde elektriksel karakterizasyon
- 150 – 1100 °C
- K tipi termokupl, ±1 °C doğruluk
- Alümina fiber yalıtım, acil durdurma
FPP 510 — Sıcaklık Kontrollü Dört Nokta Prob (Four Point Probe)
Prob, ölçüm elektroniği ve −5…+80 °C sıcaklık kontrolünü tek taşınabilir gövdede birleştiren dört nokta iletkenlik ölçüm sistemi
- Hepsi bir arada: prob, kontrol ünitesi ve sıcaklık kontrolü tek taşınabilir gövdede
- PTFE prob başlığı, 4 × %99,9 platin iğne; aralık 1 mm, iğne çapı 0,5 mm
- Dikey kızaklı, vidalı prob kolu: ince filmden kalın/geniş numuneye
FPP 630T — Dokunmatik Ekranlı Dört Nokta Prob (Four Point Probe)
Dokunmatik kontrol paneli, 10 mm iğne aralıklı prob ve 2 MΩ'dan 0,05 Ω'a otomatik veya manuel aralık seçimi ile geniş numuneler için dört nokta iletkenlik ölçümü
- Dokunmatik renkli kontrol paneli: mod, örnekleme, aralık, t ve K girişi tek ekranda
- PTFE prob başlığı, 4 × %99,9 platin iğne, 10 mm aralık — geniş ve kalın numuneler için; yedek başlık temin edilir
- Ölçüm aralığı 2 MΩ → 0,05 Ω: otomatik aralık seçimi; manuel aralık seçimi de mevcuttur
M470
Ultra yüksek çözünürlüklü tarama platformu — 9 modüler teknik
- 9 teknik: SECM, ac-SECM, ic-SECM, LEIS, SVP (SVET), SDS (SDC), ac-SDS, SKP, OSP
- Konumlandırma çözünürlüğü 20 nm, tarama aralığı 110 mm
- Maks. tarama hızı 10 mm/s; ic-SECM için piezo konumlandırma
VMP-300
Serinin en esnek cihazı: 16 yapılandırılabilir kanal
- 16 slot: 16 bağımsız kanala kadar
- Paralel boosterlarla 150 A'ya kadar
- Kanal başına EIS 11 MHz, ULC opsiyonu
Bu uygulama için hangi konfigürasyon?
Hücre tipi, akım aralığı ve kanal sayısını birlikte belirleyelim.